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發(fā)布時間:2024-08-04
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簡要描述:
非標(biāo)步入式恒溫恒濕試驗箱大型高低溫老化箱該設(shè)備適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗,是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備,特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。
非標(biāo)步入式恒溫恒濕試驗箱大型高低溫老化箱用于針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備,特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。
非標(biāo)步入式恒溫恒濕試驗箱大型高低溫老化箱
一、宇航志達高低溫試驗箱試驗箱廠家高低溫試驗箱技術(shù)指標(biāo):
1、溫度范圍:-20℃~150℃、-40℃~150℃、-60℃~150℃、-70℃~150℃
2、溫度均勻度:≤±2℃ ?(空載時)
3、溫度波動度:±0.5℃ (空載時)
4、溫度偏差:≤±2℃
5、降溫速率:1.0~1.2℃/min
6、升溫速度:2.0~3.0℃/min
高低溫(濕熱)試驗箱產(chǎn)品簡介:高低溫(濕熱)試驗箱滿足GB/T 2423.1-2008試驗A《低溫試驗方法》;GB/T 2423.2-2008試驗B《高溫試驗方法》;GB/T 2423.3-2006試驗C《恒定濕熱方法》;GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》等國家標(biāo)準(zhǔn)進行設(shè)計制造,可進行各種高低溫濕熱環(huán)境試驗。
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