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宇航志達芯片半導體測試高低溫沖擊試驗箱

發(fā)布時間：2024-08-05

訪問次數(shù)：1001

簡要描述：

宇航志達芯片半導體測試高低溫沖擊試驗箱適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之又名高低溫試驗機，試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之

詳細介紹

宇航志達芯片半導體測試高低溫沖擊試驗箱構(gòu)造美觀,高效安全,用途廣泛高低溫試驗箱是航空,汽車,家電,科研等領(lǐng)域的測試設備,用于測試和確定電工,電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫,低溫,或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

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宇航志達芯片半導體測試高低溫沖擊試驗箱

技術(shù)參數(shù)：

1、型號：Y-HU-150G

2、內(nèi)箱尺寸：寬400×高500×深400mm

3、外形尺寸：寬650×高1550×深1010mm

4、溫度范圍：低溫-70℃～高溫150℃

5、濕度范圍：標準型（20%～98%RH）


6、溫度解析度：0.01℃

7、溫度波動度：≤±0.5℃

8、濕度波動度：≤±2.0%RH

9、溫度均勻度：±2.0℃

10、濕度偏差：75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH

11、升溫速率：約1.0℃～3.0℃/min

12、降溫速率：約0.8℃～1.3℃/min

13、電源要求：AC220V/50H


 


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